上海光电测试系统供应 欢迎咨询 上海明策供应

 ST测试系统计算机化测试系统，半自动测试短波红外相机的重要参数；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨对比度），MTF（调至传递函数），Distortion（畸变），FOV（视场），灵敏度，SNR（信噪比），NEI（噪声等效输入），FPN（固定图形噪声），non-uniformity（非均匀性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨温差，MDTD（蕞小可探测温差），MTF（调至传递函数），NETD（噪声等效温差），FPN（固定图形噪声）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探测率），NoiseEquivalentIrradiance（噪声等效辐亮度），噪声，动态范围等。光电技术，为智能交通系统提供可靠信号检测。上海光电测试系统供应

Inframet MTB面源黑体有优异的温度分辨率，时间稳定性，很高的温度均匀性和优异的温度精度。 所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

主要特性

高分辨率的温度调节（0.01ºC，优于市场上其他的黑体，通常这些黑体分辨率为0.1ºC）；非常好的时间稳定性（0.1ºC，优于市场上提供的其他黑体，通常为0.5ºC）；良好的温度均匀性（1ºC@125ºC，市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm）；所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。 上海光电测试系统供应光电系统，助力制药行业，提升药品质量。

MAB黑体是在整个太赫兹和亚太赫兹频谱带中商用的并且具有高发射率的大面积宽带黑体。此黑体已经由Inframet研究团队进行了几年的实验研究。

主要特性

宽泛的频谱范围涵盖了THz和亚THz频带；大面积高达1mx1m；Thz/亚THz波段的高发射率；大面积辐射面上具有良好的热均匀性；高温度分辨率1mK和温度稳定性10mK；高速，易于PC控制；紧凑可靠的设计（黑体与控制器集成）。

在国际市场提供的典型面源黑体（包括Inframet提供的TCB/MTB黑体）被优化，以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标：约1μm至约15μm。 这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板，与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。

NVS测量系统的比较大优点就是通过采用不同的透射式平行光管和一组靶标，能够测量所有类型的夜视仪。必须在测量前准备合适的平行光管，靶标和对准被测夜视器件。如果只测试短程夜视镜以及小型夜视设备的情况下推荐NVT/NV14测试

NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统，可测试长程夜视瞄准设备，同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计，包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。

Inframet ST短波红外相机测试系统赋能冶金，精确、测试助力材料创新。

ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数：MTF，分辨率，EFL，畸变，渐晕，透过率，BFL，工作焦距，焦深，场曲，色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于测试多波段光学系统，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。

ORI测试系统原理：目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统，透射出的平行光入射平行光管，蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理，较一般正光路的测量系统具有独特的优势。 光电测试系统，助力LED照明品质提升。上海光电测试系统性能特点

光电测试，助力影视制作，精确控制灯光效果。上海光电测试系统供应

OPO测试系统为计算机化的系统，用于对被测望远瞄准系统生成的参考图像进行分析。OPO测试系统由以下模块组成:TG-OP目标发生器，CTG控制器，一组靶标，一组圆孔，CPO10100投射式平行光管，MP-A机械平台，MP-B机械平台，MP-C平台，DPM66屈光度计，计算机，图像采集卡，一组孔径调节器以及TOPO测试软件。

产品参数如下

表1被测光学系统范围

参数：数值

入射口径范围：10-60mm

出射口径范围：2-60mm

放大率范围：-30x

表2测试调节范围

参数：数值

模拟距离50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

离轴角范围：0°-30°

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